تولید و مشخصه یابی نانوفیلم اکسید روی آلاییده شده با گالیم توسط روش سل-ژل و بررسی خواص اپتیکی و الکتریکی آن برای استفاده در سلول های خورشیدی پلیمری

محمد رسول مداح الحسینی¹ سعید علی نظم آبادی²

1) دانشجوی کارشناسی ارشد گرایش کنترل
2) دانشجوی کارشناسی ارشد گرایش کنترل

محل انتشار : دومین کنفرانس بین المللی مهندسی و علوم کاربردی(2iceasconf.com)
چکیده :
در این پژوهش، لایه نازک اکسید روی آلاییده با گالیم به روش سل-ژل و به کمک دستگاه پوشش دهی چرخشی تولید و مورد مشخصه یابی قرار گرفت. در ابتدا پارامترهایی نظیر سرعت لایه نشانی و زمان باز پخت مورد بررسی قرار گرفت. طبق نتایج حاصله، بهینه سرعت لایه نشانی و زمان پخت به ترتیب در دور 2500دور در دقیقه و زمان 1 ساعت مشاهده شد. هم چنین با بهینه کردن پارامترهای کنترل، مقدار آلاییدگی گالیم در لایه نازک اکسید روی از 0 تا 2 درصد مورد مطالعه قرار گرفت. با بررسی نتایج مشاهده شد که نمونه با 2درصد آلاییدگی گالیم، نسبت به سایر نمونه¬ها عبوردهی و گاف نواری بیشتر و همچنین رسانایی بیشتر را دارا می باشد.
کلمات کلیدی : پوشش دهی چرخشی سل-ژل اکسید روی آلایش گالیم